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北京大学冯建华教授应邀来我院作学术报告
时间:2011-09-10    浏览次数:1037        
  9月10日下午,应我院邀请,北京大学微电子学研究院SOC测试中心主任冯建华教授来院作题为“VLSI测试和可测试性设计研究与进展”的学术报告,我院部分师生聆听报告。
  冯建华教授在报告中就测试技术的概念、特点和发展趋势等作了深入讲解,指出随着微电子学芯片技术的发展,测试技术面临着越来越大的挑战,测试手段和技术也日益复杂。冯建华教授还详细先容了测试矢量生成技术、可测试性设计、故障模型、IDDQ测试、SOC测试等技术,并对北京大学SOC实验室的研究工作作了简要先容。
  讲座尾声,在场师生就各自感兴趣的问题与冯建华教授进行了交流。

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